EDX-LE能量色散X射线分析在地质探测中的应用

　　EDX-LE能量色散X射线分析是常用的分析手段，在电子与物质相互作用时，采用能聚焦的入射电子可以激发初级x射线，不同元素发射出来的特征x射线波长不同，能量也不同。利用x射线能量不同而展谱一般称为x射线能谱分析或能量色散x射线分析，所用设备通常称为能量色散谱仪。

 

　　EDX-LE能量色散X射线分析的主要单元是半导体探测器及多道脉冲高度分析器，用以将特征x射线按能量展i｝｝Er7，5的分辨率远不如波长色散谱仪，它有分析速度快的优点，和通用的x射线波长色散谱仪相比可提高10倍，如果进行物相鉴定，只需几分钟就可以得到被测物质的全部衍射花样。

 

　　X射线荧光分析技术（XRF）作为常规、快速的分析手段，开始于20世纪50年代初，经历了50多年的不断发展，现在已成为物质组成分析的方法之一。由于波长色散配备较大功率的X光管，荧光强度高；因此，波长色散仪器占用较短的测量时，便能达到较高的测量精度。

 

　　X射线荧光分析技术可以分为两大类型：波长色散X射线荧光分析（WDXRF）和能量色散X射线荧光分析（EDXRF）；而能量色散型又根据探测器的类型分为（Si－PIN）型和SDD型。在不同的应用条件下，这几种类型的技术各有其突出的特点。

 

　　目前，X射线荧光分析不仅材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。也是X射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面的仪器之一。同时，成为地质、冶金、建材、石油化工、半导体工业和医药卫生等领域的重要分析手段。