EDX-LE能量色散X射线分析是用于元素分析应用的两种通用型X射线荧光技术之一。在EDXRF光谱仪中，样品中的所有元素都被同时激发，而能量色散检测仪与多通道分析仪相结合，用于同时收集从样品发射的荧光辐射，然后区分来自各个样品元素的特性辐射的不同能量。
X射线光学晶体可用于增强EDXRF仪器。对于常规XRF仪器，样品表面典型焦斑尺寸的直径范围从几百微米到几毫米不等。多毛细管聚焦光学晶体从发散X射线源收集X射线，并将它们引导至样品表面上形成直径小到几十微米的小聚焦光束。
EDX-LE能量色散X射线分析利用不同元素的X射线光子特征能量不同进行成分分析，由此增加的强度以小焦斑传递到样品，可增强用于小特性分析的空间分辨率和用于微EDXRF应用的微量元素测量性能。
能量色散X射线光谱（EDX）通常借助电子显微镜使用对样品实施微区成分分析，依据元素特征X射线的波长和强度，来检测样品中不同元素的相对含量和分布情况。
在电子与物质相互作用时，采用能聚焦的入射电子可以激发初级x射线，不同元素发射出来的特征x射线波长不同，能量也不同。利用x射线能量不同而展谱一般称为x射线能谱分析或能量色散x射线分析，所用设备通常称为能量色散谱仪。
主要单元是半导体探测器及多道脉冲高度分析器，用以将特征x射线按能量展i｝｝Er7，5的分辨率远不如波长色散谱仪，它有分析速度快的优点，和通用的x射线波长色散谱仪相比可提高10倍，如果进行物相鉴定，只需几分钟就可以得到被测物质的全部衍射花样。
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