EDX-LE能量色散X射线分析是多个领域的重要分析手段

　　EDX-LE能量色散X射线分析是X射线能谱分析的一种仪器。在电子与物质相互作用时，采用能聚焦的入射电子可以激发初级X射线，不同元素发射出来的特征X射线波长不同，能量也不同。利用X射线能量不同而展谱一般称为X射线能谱分析或能量色散X射线分析，所用设备通常称为能量色散谱仪。

 

　　EDX-LE能量色散X射线分析的主要单元是半导体探测器及多道脉冲高度分析器，用以将特征X射线按能量展i｝｝Er7，5的分辨率远不如波长色散谱仪，它有分析速度快的优点，和通用的X射线波长色散谱仪相比可提高10倍，如果进行物相鉴定，只需几分钟就可以得到被测物质的全部衍射花样。

 

　　根据分光方式的不同，X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也就是通常所说的能谱仪和波谱仪，缩写为EDXRF和WDXRF。通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波长色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为X射线荧光光谱仪。

 

　　就能量色散型仪器而言，根据选用探测器的不同，X射线荧光分析仪可分为半导体探测器和正比计数管两种主要类型。根据分析能力的大小还可分为多元素分析仪器和个别元素分析仪器。这种称呼多用于能量色散型仪器。

 

　　X射线荧光分析不仅材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。也是X射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面常选仪器之一。同时，成为地质、冶金、建材、石油化工、半导体工业和医药卫生等领域的重要分析手段。