EDX-LE能量色散X射线分析被测量样品的要求

　　EDX-LE能量色散X射线分析作为一种快速分析手段，为我国的相关生产企业提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的，检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径；相对于其他分析方法（例如：发射光谱、吸收光谱、分光光度计、色谱质谱等），XRF 具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、方便、测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关生产企业作为过程控制和检测使用。

 

　　EDX-LE能量色散X射线分析可以分为两大类型：能量色散X 射线荧光分析（EDXRF）和波长色散X 射线荧光分析（WDXRF）；而能量色散型又根据探测器的类型分为（Si-PIN）型和SDD 型。在不同的应用条件下，这几种类型的技术各有其突出的特点。

 

　　由于波长色散配备较大功率的X 光管，荧光强度高；因此，波长色散仪器占用较短的测量时，便能达到较高的测量精度。

 

　　由于技术特点的差异，波长色散X 荧光分析仪需要对被测仪量样品进行简单的处理；对固体样品的一般处理方法是将被测量样品表面打磨光滑，对粉末和其他样品可以采用磨细后进行粉末压片法处理，相应的设备市场上很容易找到。

 

　　能量色散型仪器最大的优势在于：可以对样品不作特别复杂的处理而直接进行测量，对样品也没有任何损坏，适合直接用于生产的过程控制中；

 

　　但需要强调指出的是：从荧光理论上，被测量样品的预先处理是必须的，对于能量色散仪器来说，我们可以采取一些技术手段进行校正来满足实际生产控制的需要，但即使采用了技术校正的手段，对不规则样品的直接测量也是以牺牲测量准确度作为代价的。