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EDX-LE能量色散X射线分析被测量样品的要求

发布时间:2022-01-07      点击次数:19
  EDX-LE能量色散X射线分析作为一种快速分析手段,为我国的相关生产企业提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的,检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径;相对于其他分析方法(例如:发射光谱、吸收光谱、分光光度计、色谱质谱等),XRF 具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、方便、测量成本低等明显优势,特别适合用于各类相关生产企业作为过程控制和检测使用。
 
  EDX-LE能量色散X射线分析可以分为两大类型:能量色散X 射线荧光分析(EDXRF)和波长色散X 射线荧光分析(WDXRF);而能量色散型又根据探测器的类型分为(Si-PIN)型和SDD 型。在不同的应用条件下,这几种类型的技术各有其突出的特点。
 
  由于波长色散配备较大功率的X 光管,荧光强度高;因此,波长色散仪器占用较短的测量时,便能达到较高的测量精度。
 
  由于技术特点的差异,波长色散X 荧光分析仪需要对被测仪量样品进行简单的处理;对固体样品的一般处理方法是将被测量样品表面打磨光滑,对粉末和其他样品可以采用磨细后进行粉末压片法处理,相应的设备市场上很容易找到。
 
  能量色散型仪器最大的优势在于:可以对样品不作特别复杂的处理而直接进行测量,对样品也没有任何损坏,适合直接用于生产的过程控制中;
 
  但需要强调指出的是:从荧光理论上,被测量样品的预先处理是必须的,对于能量色散仪器来说,我们可以采取一些技术手段进行校正来满足实际生产控制的需要,但即使采用了技术校正的手段,对不规则样品的直接测量也是以牺牲测量准确度作为代价的。

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