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EDX-7000/8000的定量定性分析受影响因素

发布时间:2021-12-24      点击次数:170
  EDX-7000/8000荧光X射线分析受影响一般有两个原因:
 
  1、样品不是硅玻璃,或者硅含量很少。
 
  2、x射线是否照射在样品上,一般来说,样品至少需要1平方毫米的一个平面,x射线要直接照射在这个平面上,玻璃纤维一般是极细的圆柱。
 
  x射线荧光定性分析:
 
  不同元素的EDX-7000/8000荧光X射线具有各自的特定波长,因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪,对于一定晶面间距的晶体,由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ,从而确定元素成分。事实上,在定性分析时,可以靠计算机自动识别谱线,给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干扰时,仍需人工鉴别。首先识别出X射线管靶材的特征X射线和强峰的伴随线,然后根据2θ角标注剩斜谱线。在分析未知谱线时,要同时考虑到样品的来源,性质等因素,以便综合判断。
 
  定量分析:
 
  EDX-7000/8000X射线荧光光谱法进行定量分析的依据是元素的荧光X射线强度I1与试样中该元素的含量Wi成正比:
 
  Ii=IsWi(10.2)
 
  式中,Is为Wi=100%时,该元素的荧光X射线的强度。根据式(10.2),可以采用标准曲线法,增量法,内标法等进行定量分析。但是这些方法都要使标准样品的组成与试样的组成尽可能相同或相似,否则试样的基体效应或共存元素的影响,会给测定结果造成很大的偏差。所谓基体效应是指样品的基本化学组成和物理化学状态的变化对X射线荧光强度所造成的影响。化学组成的变化,会影响样品对一次X射线和X射线荧光的吸收,也会改变荧光增强效应。

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