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膜厚测试仪的结果输出

发布时间:2017-07-14      点击次数:1413
   膜厚测试仪测量精度高、稳定性好,测量结果至μin。具有高性价价比,有着非破坏、非接触、多合金测量、测量元素范围广、测量、测量时间短等特点;具有高生产力、高再现性,能有效控制产品质量,节约电镀成本。
  采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。
  膜厚测试仪电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术,利用磁阻来调制测量信号。还采用设计的集成电路,引入微机,使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪,分辨率达到0.1um,允许误差达1%,量程达10mm。
  膜厚测试仪自定义报告模板,报告包可含数据、图像、统计图表、客户信息等;统计数据、图、表含有平均值、标准偏差、相对标准偏差、zui大值、zui小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图,数据分组、X-bar/R图表、直方图等。

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