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产品分析膜厚测试仪萤光X射线装置

发布时间:2014-08-22      点击次数:1812
膜厚测试仪萤光X射线装置(XRF)
X射线产生原理  
膜厚测试仪X射线的能量穿过金属镀层的同时,金属元素其电子会反射其稳定的能量波谱。通过这样的原理,我们设计出:  
膜厚测试仪原理  
膜厚测试仪也可称为膜厚测量仪,又称金属涂镀层厚度测量仪,其不同之处为其即是薄膜厚度测试仪,也是薄膜表层金属元素分析仪,因响应环保工艺准则,故目前市场上zui普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。  
膜厚测试仪
在此技术方面广大业界一致认同日本精工膜厚测量仪比较,因其为**台膜厚测量仪的生产商。  
具体介绍为:进口日本精工(SFT9100M)X-RAY荧光无损金属薄膜电镀层厚度测量仪。  
SFT9100M是精工膜厚仪系列中经济实用又功能齐全的机型用途:检测金属镀层膜厚厚度的仪器,保证镀层厚度品质,减少电镀成本浪费。

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