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EDX-7000/8000使用前检定

发布时间:2021-08-26      点击次数:92
   EDX-7000/8000射线管发出X射线照射样品,样品中所含的原子则向外发射原子特有的X射线。这种X射线被称为荧光X射线,各元素具有特定的波长(能量)。因此,通过检测X射线的波长就能够进行定性分析。另外,荧光X射线的强度与浓度具有函数关系,检测每个元素X射线特征波长的X射线量就能进行定量分析。
 
  EDX-7000/8000需要检定才能更好的使用,以下是EDX-7000/8000的检定介绍:
 
  分辨率的检定
 
  分辨率是X荧光光谱仪的重要参数。探测器对X射线的不同能量分辨能力用“能量分辨率”来表示。在能量色散X荧光光谱仪中,入射X射线的能量分布是识别不同元素特征X射线的依据。能量分辨率越好,对元素的分辨能力越强,可以有效地分辨待测元素与干扰信息,提高测试精度。按照国际惯例,对能量色散X荧光光谱仪的分辨率采用55Fe进行测量。计数率在(1000±100)cps/s时,以其脉冲高度分布的半高宽确定其分辨率。
 
  准直器系统的检定
 
  准直器的作用是将光源发射的X射线变成平行光束照射在待测样品上,同时改变照射光束的强度。合理地使用准直器可以降低散射背景,控制计数率,控制光斑大小和位置,提高测试精度。对于微小样品使用产生小光斑的准直器可以降低背景、提高测试精度。对于大块样品使用产生大光斑的准直器可以全面地反应出样品信息。
 
  准直器系统机械结构可靠性检验方法如下:将准直器移动1000次,要求在移动的过程中无卡位,无错位,无异响。准直器稳定性的检验方法:100次,测试纯铁样块,记下计数率。重复试验10次,计数率的相对标准偏差要求在10%以内。
 
  示值误差的检定
 
  在X射线荧光分析方法中,如采用标准曲线法或内标法,标样的制作将十分费时和困难,尤其是在基体效应复杂和基体元素变化范围大的情况下,不易得到准确的分析结果。近年来,为了提高定量分析的精度,发展了一些复杂的数学处理方法,如基本参数(FP)法和经验系数法等。实际检定根据各厂家仪器软件功能,选择相应的检定方法,利用求得实际样品的测定值与理论值对照,使用示值的相对误差来评价定量结果的准确性,其要求满足规定。
 
  重复性检定
 
  由于随机因素的作用,同一分析人员用同一分析方法对同一样品进行多次重复测定,所得结果不一定完全相同,单次测定值会围绕多次测定的平均值在一定范围内波动,它决定了测定结果的重复性,表示的是多次重复测定某一量时所得到的测定值的离散程度。手持式能量色散X射线荧光光谱仪的重复性的检定方法同示值误差的检定方法相同,在相同的条件下,连续测量11次,计算各元素的相对标准偏除了仪器自身的检测精度外,还应尽量排除外
 
  界干扰。因此必须考虑输入电压的稳定性,环境温度、湿度等的稳定性,以及仪器自身是否采取了降低信噪比的措施,才能客观地评价仪器的性能。

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