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膜厚测试仪的成像系统优势体现在哪里

更新时间:2024-02-02      点击次数:132
镀层测厚仪广泛应用于PCB、FPC、LED、SMT、连接器、端子、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等行业的表面镀层厚度测量、材料分析;是各类电镀产品镀层厚度测量的理想检测工具。工作原理:对被测样品发射一束一次X射线,样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度,X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。
主要特点:
测量精度高、稳定性好,测量结果精确至μin。
快速无损测量,测量时间短,10秒内得出测量结果。
可定性、半定量和定量分析。
进行贵金属检测,如Au karat评价。
材料鉴别和分类检测,材料和合金元素分析,元素光谱定性分析。
强大的数据统计、处理功能:平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图,数据分组、X-bar/R图表、直方图。
结果输出:直接打印或一键导出到PDF、Excel文件;报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等。
测量位置预览功能;高分辨率彩色CCD样品观察系统,标准光学放大倍数为30倍
激光对焦和自动对焦功能;单击鼠标,Z轴自动扫描,镭射聚焦。
成像系统:
彩色视频系统。
光学放大:30倍,可选项50倍。
数字放大200%。
激光自动对焦。
被测样品图像实时显示功能。
 

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