EDX-LE能量色散X射线分析和波长色散各自适合用在什么领域？

　　EDX-LE能量色散X射线分析是x射线能谱分析的一种仪器。在电子与物质相互作用时，采用能聚焦的入射电子可以激发初级x射线，不同元素发射出来的特征x射线波长不同，能量也不同。利用x射线能量不同而展谱一般称为x射线能谱分析或能量色散x射线分析，所用设备通常称为能量色散谱仪。

 

　　EDX-LE能量色散X射线分析主要单元是半导体探测器及多道脉冲高度分析器，用以将特征x射线按能量展i}}Er7，5的分辨率远不如波长色散谱仪，它有分析速度快的优点，和通用的x射线波长色散谱仪相比可提高10倍，如果进行物相鉴定，只需几分钟就可以得到被测物质的全部衍射花样。

 

　　X射线荧光分析技术作为一种快速分析手段，为我国的相关生产企业提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的，检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径；相对于其他分析方法，XRF具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、方便、测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关生产企业作为过程控制和检测使用。

 

　　由于波长色散和能量色散类型X荧光分析仪各自的技术特点，两种类型仪器所侧重的应用方案也不尽相同；波长色散X荧光分析仪具有较高的测量精度，但同时需要对被测量样品进行简单处理，更适用于进厂原材料、半成品、成品的准确检测和质量控制。

 

　　而EDX-LE能量色散X射线分析虽然测量精度稍差，但具有快速、直接测量各种形状样品的优点，因此可直接在生产线上用于各种部件、电子元器件的检测。