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东莞膜厚测试仪生产商
发布时间:2016-10-27   点击次数:1709次
   膜厚测试仪测量精度高、稳定性好,测量结果至μin,快速无损测量,测量时间短,10秒内得出测量结果可定性、半定量和定量分析进行贵金属检测,如Aukarat评价材料鉴别和分类检测,材料和合金元素分析,元素光谱定性分析。对被测样品发射一束一次X射线,样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度,X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。
  膜厚测试仪高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。产品是利用萤光X射线得到物质中的元素信息(组成和镀层厚度)的萤光X射线法原理。和萤光X射线分析装置一样被使用的X射线衍射装置是利用散乱X射线得到物质的结晶信息(构造)。而透过X射线多用于拍摄医学透视照片。另外也用于机场的货物检查。象这样根据想得到的物质信息而定X射线的种类。
  由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度,所以通常称之为非磁性测头。膜厚测试仪非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯,例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较,主要区别是测头不同,信号的频率不同,信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样,涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um,允许误差1%,量程10mm的高水平。
东莞市台淮电子科技有限公司

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主营产品:膜厚测试仪,气相色谱质谱联用仪GCMS

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